實施Mini LED光電特性參數(shù)分析的最佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表作為獨立的恒壓源或恒流源，輸出恒壓或恒流、還可以當作表，進行電壓或者電流測量；支持Trig觸發(fā)，可實現(xiàn)與光譜儀，探針臺，分選機等第三方設(shè)備聯(lián)動工作。
目前，光電性能檢測是通過Mini LED點測機實現(xiàn)的，用于測量晶圓上每一顆芯片。點測機的主要結(jié)構(gòu)單元包括探針臺，電性能測試單元，光性能測試單元，以及上位機控制系統(tǒng)等。該工序根據(jù)實際情況，位于晶圓劃片前，或者后工序。設(shè)備基本構(gòu)成主要包括探針臺，電子顯微鏡，SMU，ESD，工控機，積分球，光譜儀等。其中，SMU的作用是對芯片進行IV特性測試，同時在光學(xué)測試中，對芯片進行供電。

常用的電性能測試項目包括，V_F1,V_F2,I_R,V_Z,V_FD,D_VF等。
⑴ V_F（正向電壓）測試， FIMV： 一般會測兩個點， 第一個點V_F1為 LED剛點亮?xí)r電壓， 第二個點V_F2為LED 正常工作時的電壓；
⑵ V_Z（反向擊穿電壓）測試， FIMV：一定反向電流時，器件兩端的電壓;
⑶ I_R（反向泄露電流）測試， FVMI： 一定反向電壓時， 流過器件的電流；
⑸ D_VF 測試，材料熱縮效應(yīng)測試， FIMV： 對LED施加兩次不同的電流，并計算不同條件下的電壓差；
⑹ V_FD 測試，正向電壓暫態(tài)峰值電壓測試， FIMV： 對LED施加一定的正向電流，同時采集電壓變化， 尖峰電壓與正常電壓的差值即為V_FD； 

武漢普賽斯一直專注于半導(dǎo)體，LED，激光器的光電性能測試儀表開發(fā)，基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術(shù)平臺優(yōu)勢，率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表，Mini LED源表測試系統(tǒng)等產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體，LED，激光器等產(chǎn)品的生產(chǎn)、研發(fā)、測試場景。可夠根據(jù)用戶的需求提供高性能，高效率，高性價比的半導(dǎo)體，LED，激光器測試系統(tǒng)級解決方案。miniled光電特性測試數(shù)字源表認準生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表，詳詢一八一四零六六三四七六